歡迎報名 | 2024年中國賽寶實驗室能力驗證計劃
賽寶優(yōu)選|關(guān)于開展解決方案提升培訓(xùn)的通知
歡迎報名 | 2023年中國賽寶實驗室能力驗證計劃
關(guān)于邀請參加2021年國家級檢驗檢測機構(gòu)能力驗證計劃“電信端口傳導(dǎo)騷擾”的通知
關(guān)于舉辦第二期國家新職業(yè)電氣電子產(chǎn)品環(huán)保檢測員L(講師、考評員)綜合培訓(xùn)班的通知
隨著電子信息技術(shù)的發(fā)展日新月異,,電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度也急劇提高,,如何從產(chǎn)品設(shè)計、物料采購,、產(chǎn)品制造以及可靠性試驗分析等多方面保障電子產(chǎn)品的可靠性也就成為了廣大企業(yè)必須重點考慮的問題,。整機可靠性工作涉及面寬,問題復(fù)雜,,在越來越短的產(chǎn)品生命周期的條件下如何進行系統(tǒng)可靠性工作存在很大的難題,,賽寶實驗室在多年可靠性工作的基礎(chǔ)上,提出了電子產(chǎn)品可靠性整體解決方案將有助于企業(yè)理清思路,,從而抓住可靠性工作的核心,,保障產(chǎn)品的可靠性,降低由于可靠性問題導(dǎo)致的經(jīng)濟損失,。另外,,作為電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)、關(guān)鍵材料的電子元器件的日益復(fù)雜,,也帶來了電子元器件測試或評價方面的諸多難題,,導(dǎo)致了大量的關(guān)鍵元器件由于無法測試或測試方法不科學(xué)引發(fā)的產(chǎn)品可靠性問題。特別突出的是,,除技術(shù)難題外,,受經(jīng)濟利益驅(qū)動,目前市場上還存在大量的假冒翻新器件,,嚴(yán)重影響了電子產(chǎn)品的可靠性,,并引發(fā)了很多安全事故,,假冒翻新器件已經(jīng)成為影響電子產(chǎn)品可靠性的一個最為重要的因素。因此,,在整機設(shè)計過程中,,如何進行系統(tǒng)可靠性管理,如何選擇合適的電子元器件,;在采購過程中如何保證器件質(zhì)量穩(wěn)定,,避免采購到假冒翻新器件等劣質(zhì)元器件,如何保證電子元器件在電子制造過程中的可靠性是廣大企業(yè)迫切要解決的問題,。
賽寶實驗室可靠性研究分析中心是國內(nèi)最大的電子產(chǎn)品/電子元器件可靠性公共服務(wù)平臺,,長期從事電子產(chǎn)品的可靠性分析、評價工作,,在電子元器件質(zhì)量控制,、集成電路假冒翻新鑒別上具有豐富的經(jīng)驗,是中國電子產(chǎn)品可靠性技術(shù)服務(wù)最為權(quán)威的實驗室,。為了協(xié)助廣大企業(yè)解決電子產(chǎn)品質(zhì)量控制和可靠性管理中存在的問題,,特舉辦“電子產(chǎn)品可靠性整體解決方案(TSQ)技術(shù)專題研討會”。本次研討會將邀請國內(nèi)知名可靠性專家張增照高工,,失效分析專家李少平高工等就電子產(chǎn)品整體可靠性解決方案,,電子元器件失效分析技術(shù),元器件質(zhì)量控制,、假冒翻新器件的挑戰(zhàn)與應(yīng)對等技術(shù)方向進行深入探討,,為業(yè)界提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制能力出謀劃策。
熱忱期待您的光臨,!
主辦單位:中國賽寶實驗室可靠性研究分析中心
會議時間:2012年12月 27日
會議地點:深圳恒豐海悅酒店(V3會議廳)
會議費用: 免費(住宿自理,。主辦方提供中餐)
議程安排:
時間安排 |
演講主題 |
演講人 |
9:00-9:30 |
來賓、代表報到 | |
9:30-11:00 |
電子產(chǎn)品可靠性整體解決方案(TSQ) |
張增照 賽寶系統(tǒng)工程辦公室主任 國內(nèi)最知名的可靠性專家 |
11:00-11:50 |
電子產(chǎn)品失效分析技術(shù) |
李少平 賽寶分析中心副主任 國內(nèi)知名失效分析專家 |
12:00-13:30 |
午 餐 |
自助餐 |
13:30-14:30 |
基于失效機理的電子元器件 快速可靠性評價技術(shù) |
鄒金林 賽寶分析中心高級工程師 |
14:30-16:00 |
假冒翻新器件的挑戰(zhàn)與應(yīng)對 |
王有亮 博士 賽寶實驗室高級工程師 |
16:00-16:30 |
討論及答疑 |
主講嘉賓介紹:
張增照
中國賽寶實驗室(工業(yè)和信息化部電子第五研究所)系統(tǒng)辦主任,,高級工程師,,碩士學(xué)位,。曾主持低頻治療儀,、通信機、日立電梯對講系統(tǒng)的設(shè)計,。具有豐富的硬件設(shè)計經(jīng)驗,。
1994年開始從事電子產(chǎn)品可靠性測試、試驗和可靠性技術(shù)研究,。編著了《以可靠性為中心的質(zhì)量設(shè)計,、分析和控制》等著作,是GJB/Z299《電子設(shè)備可靠預(yù)計手冊》,、GB/T7829《故障樹分析(FTA)》等標(biāo)準(zhǔn)的制訂負(fù)責(zé)人,。具有豐富的產(chǎn)品設(shè)計經(jīng)驗和產(chǎn)品測試實踐以及深厚的可靠性理論基礎(chǔ),。為我國電子行業(yè)技術(shù)人員進行了近百次公開可靠性設(shè)計、可靠性預(yù)計,、3F方法,、元器件優(yōu)選等方面的技術(shù)培訓(xùn)。邀赴韓國參加韓國信賴性學(xué)會成立大會,,并代表中國專家在大會演講,。具有中國質(zhì)量工程師培訓(xùn)執(zhí)教資格,是《環(huán)境試驗》《電子產(chǎn)品可靠性與其試驗》編委,。中國電子學(xué)會第八屆理事會理事,,廣東省信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會秘書長。
李少平
中國賽寶實驗室(工業(yè)和信息化部電子第五研究所)可靠性研究分析中心副主任,,1984年畢業(yè)于成都電訊工程學(xué)院(現(xiàn)中國電子科技大學(xué))半導(dǎo)體器件專業(yè),。
長期從事對電子企業(yè)的可靠性增長和產(chǎn)品失效分析工作,具有豐富的失效分析經(jīng)驗,,并積累了大量的經(jīng)典分析案例,。曾在美的、海爾檢測中心,、廣東核電,、深圳富士康、中興通訊等企業(yè)講授電子元器件失效分析技術(shù)課程,。并在北京,、深圳、成都,、廣州等地舉辦了多場公開課程,。先后參與《失效分析經(jīng)典案例100例》和《電子元器件失效技術(shù)》的編寫。
會務(wù)聯(lián)系方式:
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附件:報名回執(zhí)表
2012年電子產(chǎn)品可靠性整體解決方案(TSQ)技術(shù)專題研討會 報名回執(zhí)表 | |||||
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備注:請逐項填寫此表后傳真至:020-87237185 或發(fā)郵件至:[email protected] |
注:研討會報名時間截止日為研討會開始前2天,,更多研討會詳細(xì)訊息,,請訪問http://www.rac.ceprei.com
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