7月4日上午,，國際電子電氣工程師協(xié)會（IEEE）電子器件學(xué)會（EDS）廣州分會2014年度第二次暨第十屆研討會（Mini-colloquium）在我所舉行,。本次研討會的主題為“薄膜晶體管（TFT）及其可靠性”,，重點關(guān)注大面陣顯示器件薄膜晶體管的結(jié)構(gòu)、工藝及可靠性動態(tài),。會議邀請了美國德州農(nóng)工大學(xué)（TAMU）的Yue Kuo（郭育）教授,、電子五所劉遠(yuǎn)博士開展技術(shù)報告，交流最新的科研成果,。本次參會人數(shù)40人,，主要來自我所科技人員、華南理工大學(xué),、廣東工業(yè)大學(xué)教師和研究生,，互動積極。

郭育教授的報告題目為“大面陣TFT量產(chǎn)技術(shù)——現(xiàn)狀及未來”,，他是IEEE,、ECS等國際學(xué)會的Fellow、獲過電化學(xué)學(xué)會的電子和光子學(xué)獎,、德州農(nóng)工大學(xué)的杰出研究和創(chuàng)新獎,，10項IBM技術(shù)獎等榮譽(yù)，是TFT研究的先驅(qū)和領(lǐng)袖人物,。李教授的報告深入淺出地論述了TFT的研究歷程,、材料、物理和工藝,，發(fā)展動態(tài)及其應(yīng)用領(lǐng)域,。這對我們了解先進(jìn)的顯示器件有很好的幫助作用。

我所劉遠(yuǎn)博士的報告題目為“銦鋅氧化物薄膜晶體管（IZO TFT）的低頻噪聲及其可靠性應(yīng)用”,，他聚焦于IZO TFT的靜電,、輻照以及噪聲測試表征等成果。他已在頂級期刊IEEE Electron Device Letters上發(fā)表論文多篇,，系統(tǒng)里研究了TFT的失效物理機(jī)制,。

借助IEEE 這個平臺，我所與國外的知名教授或研究人員建立了定期溝通的渠道,，了解了國外進(jìn)行的器件可靠性研究動態(tài),，促進(jìn)了我所在該方面的研究進(jìn)步。(楊少華供稿)

（重點實驗室）