集成電路（IC）的電磁環(huán)境可靠性,，也叫集成電路的電磁兼容性，是衡量IC器件在預(yù)定電磁環(huán)境下工作時是否會對其他器件的工作產(chǎn)生騷擾,，同時自身性能是否會受到其他器件所騷擾的一個指標,。對于集成電路來說,，這個指標的提出是電子產(chǎn)品電磁環(huán)境高可靠設(shè)計的需求，同時也是芯片集成度日益增高時電磁環(huán)境可靠性問題越來越突出以致直接關(guān)系到芯片性能的結(jié)果,。

      集成電路的電磁環(huán)境可靠性測試是一個相對較新的領(lǐng)域,，盡管對于電子設(shè)備及系統(tǒng)已經(jīng)有了較詳細的電磁環(huán)境相關(guān)的標準，但是對于集成電路來說,，其測試標準卻相對滯后,。國際電工委員會第47A技術(shù)分委會（IEC SC47A）在1990年就開始致力于這方面的研究，此外，北美的汽車工程協(xié)會（SAE）,、德國電氣電子信息工程師協(xié)會（VDE）也在陸續(xù)制定自己的集成電路電磁兼容性測試標準,。1997年，IEC SC47A下屬的第九工作組WG9成立,，專門負責集成電路電磁環(huán)境可靠性測試方法的研究,，通過參考各國的建議，至今相繼出版了頻率在150kHz－1GHz的集成電路電磁發(fā)射測試標準IEC61967以及集成電路電磁抗擾度測試標準IEC62132,，此外,，還有IEC62215集成電路脈沖抗擾度測量等等。

      IEC61967提供了TEM小室法,、表面掃描法,、1Ω/150Ω直接耦合法、法拉第籠工作臺法對集成電路的電磁發(fā)射情況進行測試,。TEM小室法非常適用于集成電路制造商評估芯片管芯的設(shè)計以及封裝對電磁輻射發(fā)射的影響,，但是需要制作專門的測試板，以確保不同設(shè)計者和生產(chǎn)商導(dǎo)致的測試結(jié)果差異最小,，并且實現(xiàn)可重復(fù)性的測試,；表面掃描法利用電場探針、磁場探針或電磁場探針來掃描集成電路表面的近電/磁/電磁場分布,，該方法能非常準確地定位集成電路封裝內(nèi)電磁輻射量過大的區(qū)域,，適用于對集成電路不同設(shè)計方案的電磁發(fā)射特性進行比較；1Ω/150Ω直接耦合法主要用來測試射頻電流以及引腳的射頻電壓,，該方法可以用來比較不同集成電路的電磁發(fā)射特性,；法拉第籠工作臺法提供良好的屏蔽環(huán)境，可以用來測試電源線和輸入輸出信號線上的傳導(dǎo)騷擾噪聲,。

      IEC62132則提供了TEM小室法用于測量電磁輻射抗擾度,，并提供了大電流注入法、功率直接注入法,、法拉第籠工作臺法用于測量傳導(dǎo)抗擾度,。大電流注入法利用電流鉗注入騷擾RF電流，功率直接注入法利用隔直電容從引腳處注入RF前向功率,，通過實時監(jiān)測芯片的工作狀態(tài),，最終實現(xiàn)對芯片抗擾度的評估，注入信號的頻率范圍分別取決于注入電流探頭和注入網(wǎng)絡(luò)的性能,。

      目前,，日本VCCI、歐盟,、韓國MIC等等都在積極參與集成電路電磁環(huán)境可靠性測試可行性的評估。我國的一些集成電路企業(yè)也在嘗試進行IC產(chǎn)品的電磁環(huán)境可靠性測試，國內(nèi)相關(guān)標準呼之欲出,，這個領(lǐng)域必將越來越受到企業(yè)的關(guān)注,。

                                                        （重點實驗室）