2011年6月17～20日,，2011年IEEE質(zhì)量,、可靠性,、風(fēng)險性,、維修性及安全性國際學(xué)術(shù)會議在西安召開,，此次會議由電子科技大學(xué),、中國兵工學(xué)會和IEEE可靠性學(xué)會共同主辦,，電子元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室和西北工業(yè)大學(xué)協(xié)辦,。會議旨在推進(jìn)“質(zhì)量,、可靠性,、維修性以及工程系統(tǒng)安全性”方面的學(xué)術(shù)交流，促進(jìn)研究成果在實(shí)踐中的應(yīng)用,，并展示最先進(jìn)的工業(yè)技術(shù)進(jìn)展,，進(jìn)一步提高我國可靠性研究的國際學(xué)術(shù)地位。包括國內(nèi)外學(xué)術(shù)界公認(rèn)知名專家學(xué)者,、企業(yè)界代表以及青年科技工作者共約150余人參加了會議,。

 恩云飛常務(wù)副主任在大會上做了《集成電路失效分析技術(shù)及挑戰(zhàn)》的主題報告，報告圍繞集成電路的發(fā)展及其對失效分析的要求,、失效分析技術(shù)的發(fā)展及其應(yīng)對措施展開,，并就重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室在失效分析技術(shù)和工程應(yīng)用領(lǐng)域取得的成就進(jìn)行了匯報。報告獲得了與會人員的廣泛關(guān)注與好評,，許多企業(yè)界和學(xué)術(shù)界的參會代表會后紛紛與恩主任進(jìn)行交流,，表達(dá)了進(jìn)一步合作的愿望。此外,，重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室王力緯博士,、林曉玲博士等5位同志分別在故障診斷技術(shù)、可靠性試驗(yàn)與分析技術(shù),、網(wǎng)絡(luò)可靠性,、數(shù)據(jù)收集與分析等專題做了大會宣講，通過與參會專家學(xué)者的溝通,、交流,，學(xué)到了知識，開拓了視野,，得到了良好的鍛煉,。

（重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室）