6月6日，由電子五所聯(lián)合散裂中子源科學中心承擔的國內(nèi)唯一“大氣中子輻照譜儀試驗平臺”順利通過廣東省科技廳驗收,。電子五所總工程師恩云飛,、散裂源中子源科學中心主任陳延偉參加項目驗收會。驗收專家組長由中國工程院院士夏佳文擔任,。驗收專家組成員一致認為,，項目高質(zhì)量完成了各設(shè)備研制、安裝,、調(diào)試與譜儀聯(lián)合調(diào)試,，完成了預(yù)定任務(wù),，達到了項目建設(shè)指標。

與英國ISIS ChipIr,、美國LANSCE ICE House等國外同類裝置相比，本項目建成的譜儀更接近大氣中子真實環(huán)境,，具有中子通量高,、通量可調(diào)節(jié)范圍寬、束斑尺寸大且調(diào)節(jié)靈活等優(yōu)點,。該項目建成了我國首臺寬能譜大氣中子輻照試驗平臺,，可廣泛為航空、航天,、電網(wǎng),、汽車電子、通信基站,、醫(yī)療電子,、銀行系統(tǒng),、核電控制、超算等高可靠電子信息系統(tǒng)產(chǎn)品制造提供服務(wù),，也可開展電子信息系統(tǒng)的軟故障快速暴露,、軟錯誤率定量評估,、防護及糾錯技術(shù)驗證等，有利于提升我國高可靠,、高安全,、抗輻射電子產(chǎn)品的綜合可靠性水平,，助力粵港澳大灣區(qū)國家戰(zhàn)略,。同時也將吸引國內(nèi)外科研機構(gòu)在此平臺上開展前沿科學研究，提升我國在該技術(shù)領(lǐng)域的國際影響力,。

該項目建成標志著我所元器件可靠性技術(shù)領(lǐng)域研究新方向形成有效突破,，有利于我所在元器件全空域輻照可靠性方面的布局和創(chuàng)新發(fā)展,。該項目建成,，使我所成為國內(nèi)唯一具備覆蓋阿爾法粒子和大氣中子芯片軟錯誤率（SER）定量評估技術(shù)能力的機構(gòu)。