2021年7月29日,，國(guó)際電氣電子工程師學(xué)會(huì)電子元器件廣州分會(huì)（以下簡(jiǎn)稱IEEE EDS 廣州分會(huì)）成功組織召開了第二十屆國(guó)際學(xué)術(shù)研討會(huì),，本次會(huì)議采用“線上直播+線下會(huì)議”相結(jié)合的方式進(jìn)行,，由我所電子元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室和IEEE EDS聯(lián)合主辦,，所科技委協(xié)辦,。來(lái)自臺(tái)灣清華大學(xué),、臺(tái)灣交通大學(xué),、香港大學(xué)、華南理工大學(xué),、中山大學(xué),、廣東工業(yè)大學(xué)、電子五所等單位的研究學(xué)者和工程師參加了此次會(huì)議,。

本次研討會(huì)由IEEE EDS廣州分會(huì)主席,、所總工程師、研究員恩云飛組織召開，會(huì)議方邀請(qǐng)3名IEEE EDS杰出講師和1名 IEEE會(huì)員作微電子前沿技術(shù)的發(fā)展報(bào)告,。專家們分別從高性能的MOSFET 和 FinFET器件設(shè)計(jì),、CMOS RF器件以及多陣列AI存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)、器件及系統(tǒng)的未來(lái)技術(shù)演變趨勢(shì)以及對(duì)納米MOSFET的建模和壽命預(yù)測(cè)4個(gè)前沿方向作了系統(tǒng)性的介紹,，參會(huì)者進(jìn)行了熱烈地討論和交流,。

IEEE EDS廣州分會(huì)為我所科研人員提供了一個(gè)良好的交流與合作平臺(tái)，促進(jìn)我所在國(guó)際上微電子器件可靠性研究領(lǐng)域的知名度和影響力不斷提升,。