第二十二屆全國可靠性物理年會(huì)（NRPS’2020）于10月28至30日在廣州成功舉辦,。本次大會(huì)由中國電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)和電子元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)國家級重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室聯(lián)合主辦,，由工業(yè)和信息化部電子第五研究所承辦,。大會(huì)主題為：“用可靠鑄就經(jīng)典”,。

中國工程院院士劉人懷擔(dān)任本屆大會(huì)主席,，工信部電子五所副所長王蘊(yùn)輝擔(dān)任執(zhí)行主席,，工信部電子五所總工程師恩云飛以及中國電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)秘書長紀(jì)春陽共同擔(dān)任程序委員會(huì)主任,。

大會(huì)主席劉人懷院士代表會(huì)務(wù)組介紹了大會(huì)整體情況,。執(zhí)行主席王蘊(yùn)輝副所長回顧了可靠性物理年會(huì)的發(fā)展歷史,，肯定了可靠性物理年會(huì)對推動(dòng)國內(nèi)可靠性技術(shù)發(fā)展的貢獻(xiàn)，并結(jié)合國家質(zhì)量強(qiáng)國戰(zhàn)略,，探討了可靠性技術(shù)的發(fā)展趨勢,。

大會(huì)采用“線下會(huì)議+線上直播”相結(jié)合的方式進(jìn)行，設(shè)置了大會(huì)主題報(bào)告和分會(huì)場報(bào)告兩個(gè)環(huán)節(jié),。大會(huì)邀請了都安彥教授,、胡林忠研究員、孫偉鋒教授,、劉俊堂研究員,、胡云研究員和周斌研究員六名國內(nèi)外專家，分別圍繞高端芯片可靠性分析,、民企可靠性工程發(fā)展趨勢,、SiC功率MOSFET可靠性、系統(tǒng)工程,、航天產(chǎn)品質(zhì)量保證和先進(jìn)封裝可靠性等領(lǐng)域的最新研究成果,，做了主題報(bào)告，并與與會(huì)代表進(jìn)行了深入交流探討,。大會(huì)共評選出30篇學(xué)術(shù)論文進(jìn)行分會(huì)場報(bào)告,，為與會(huì)代表帶來了可靠性前沿技術(shù)發(fā)展、新型元器件失效模式及失效機(jī)理,、可靠性/環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)與評價(jià),、可靠性設(shè)計(jì)與仿真試驗(yàn)、安全性/測試性/保障性及故障診斷等技術(shù)領(lǐng)域的最新進(jìn)展,。

共有來自學(xué)術(shù)界,、工業(yè)界和政府機(jī)構(gòu)的110余名專家學(xué)者、行業(yè)精英,、工程技術(shù)人員和在校學(xué)生參加了本次大會(huì),，會(huì)議為高可靠產(chǎn)品的產(chǎn),、學(xué),、研,、用協(xié)同創(chuàng)新提供了便捷的交流機(jī)會(huì)，受到了與會(huì)代表的高度評價(jià),。