2019年全國可靠性物理年會（NRPS’2019）學術盛會于10月16至18日在桂林召開,。本次大會由桂林電子科技大學、中國電子學會可靠性分會,、工業(yè)和信息化部電子第五研究所,、電子元器件可靠性物理及其應用技術國家級重點實驗室聯(lián)合主辦，大會主題為：“用可靠助力高質量發(fā)展”,。大會編輯的《2019年全國可靠性物理年會論文集》共收錄論文93篇,，論文作者單位覆蓋航天、航空,、航海,、高校、研究所,、企業(yè)等相關單位,，經(jīng)大會組織同行專家評審，共評選出口頭報告44篇,，海報27篇,，優(yōu)秀論文15篇。

本次會議聚焦可靠性前沿技術及展望,、失效模式及失效機理,、可靠性/環(huán)境適應性試驗與評價、可靠性設計與仿真試驗,、安全性/測試性/保障性及故障診斷,、工藝可靠性與穩(wěn)健性設計等領域的最新科研成果,，為來自學術界、工業(yè)界和政府機構的100余名專家學者,、行業(yè)精英,、工程技術人員和在校學生搭建交流平臺，為高可靠產(chǎn)品的產(chǎn),、學,、研、用協(xié)同創(chuàng)新提供便捷的交流機會,。

本次大會共設可靠性分會委員會議,、主題報告、論文報告,、海報,、優(yōu)秀論文頒獎等環(huán)節(jié)。大會主席為中國工程院院士劉人懷,，執(zhí)行主席由工業(yè)和信息化部電子第五研究所副所長王蘊輝擔任,，程序委員會主任為工業(yè)和信息化部電子第五研究所副總工恩云飛、中國電子學會可靠性分會秘書長紀春陽和桂林電子科技大學潘開林教授,。17日上午的會議由恩云飛研究員主持,，桂林電子科技大學副校長歐陽繕、中國電子學會副秘書長洪京一,、工業(yè)和信息化部電子第五研究所副所長王蘊輝分別致辭后,，六位知名專家做了精彩的主題報告，分別是王冬研究員——“航天型號通用質量特性保證體系的構建與實施”,、黃云研究員——“基于散裂中子源的大氣中子輻照譜儀及試驗研究”,、楊道國教授——“電子封裝中界面層裂研究：實驗測試與數(shù)值仿真”、孫博教授——“基于模型的可靠性系統(tǒng)工程：以可靠性助力質量技術變革”,、羅道軍研究員——“電子產(chǎn)品中的電化學遷移：模型,、機理與預防”和尹文言教授——“高性能多物理仿真及其在先進器件可靠性與集成防護中的應用”。17日下午和18日,，71名論文作者做了精彩的口頭報告和海報展示,，與參會代表交流討論了最新研究成果。大會閉幕式由紀春陽秘書長主持,，中國電子學會副秘書長洪京一,、中電29所鄧林研究員為優(yōu)秀論文作者頒發(fā)了獲獎證書，會議圓滿閉幕,。