12月14日,，基于低頻噪聲技術(shù)的電子元器件可靠性無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)工作組（以下簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)工作組）2018年度會(huì)議在西南分所召開,。本次會(huì)議由我所元器件中心和西南分所主辦。來自工業(yè)和信息化部科技司,、航天一院,、航天五院、西安電子科技大學(xué),、中國(guó)電力科學(xué)研究院以及中電44所,、55所等十余家國(guó)內(nèi)元器件行業(yè)知名研制廠所等20多位領(lǐng)導(dǎo)和專家參加了會(huì)議。標(biāo)準(zhǔn)工作組組長(zhǎng)韓俊,、我所副所長(zhǎng)王勇,、元器件中心和西南分所的相關(guān)領(lǐng)導(dǎo)出席了本次會(huì)議。會(huì)議由標(biāo)準(zhǔn)工作組秘書長(zhǎng),、元器件中心副主任羅宏偉主持,。

王勇副所長(zhǎng)在會(huì)上致辭時(shí)表示，標(biāo)準(zhǔn)研制工作由電子元器件行業(yè)代表單位共同參與,，形成的方法成果也將為行業(yè)各單位所共享,，為各單位產(chǎn)品的質(zhì)量管控和品質(zhì)提升提供技術(shù)支持，從而促進(jìn)我國(guó)電子元器件行業(yè)質(zhì)量的整體提升,。評(píng)價(jià)方法既有實(shí)際效果,，也有廣闊的應(yīng)用前景。

會(huì)上,，項(xiàng)目單位匯報(bào)了基于低頻噪聲的電子元器件可靠性無損檢測(cè)和篩選方法通用要求,，商定了基于低頻噪聲的光電耦合器件可靠性無損檢測(cè)和篩選方法的草案,，并同時(shí)總結(jié)了在電子元器件低頻噪聲測(cè)試方法應(yīng)用和利用低頻噪聲進(jìn)行元器件可靠性篩選和評(píng)價(jià)方面取得的案例成果。參會(huì)專家針對(duì)方法的需求背景,、國(guó)內(nèi)外現(xiàn)狀,、研究?jī)?nèi)容、技術(shù)方案等進(jìn)行質(zhì)詢和研討,，并提出了意見和建議,。

最后，對(duì)于形成的方法和案例成果,，參會(huì)專家建議項(xiàng)目單位選取更多典型代表元器件,，繼續(xù)開展方法的應(yīng)用驗(yàn)證工作，進(jìn)一步完善細(xì)化方法,，使其更具指導(dǎo)性,。參會(huì)專家就下一階段工作任務(wù)達(dá)成共識(shí)，在各成員單位的共同努力下,，在基于低頻噪聲的電子元器件可靠性評(píng)價(jià)方法標(biāo)準(zhǔn)研制方面取得更大的成果,，持續(xù)推動(dòng)我國(guó)電子元器件可靠性無損檢測(cè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展和行業(yè)應(yīng)用，為我國(guó)電子元器件行業(yè)的品質(zhì)提升作出應(yīng)有的貢獻(xiàn),。