1

模型驅(qū)動(dòng)的質(zhì)量特性協(xié)同設(shè)計(jì)

JH/CIE 179-2021

    2

數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的質(zhì)量特性協(xié)同設(shè)計(jì)

JH/CIE 180-2021

3

民機(jī)航空電子系統(tǒng)故障智能診斷與維修測(cè)試技術(shù)規(guī)范

JH/CIE 181-2021

   4

面向復(fù)雜裝備運(yùn)行維護(hù)需求的故障預(yù)測(cè)

JH/CIE 182-2021

   5

面向復(fù)雜裝備運(yùn)行維護(hù)需求的預(yù)測(cè)性維護(hù)

JH/CIE 183-2021

   6

基于模型的系統(tǒng)可靠性分析指南

JH/CIE 186-2021

   7

復(fù)雜組件封裝可靠性仿真評(píng)價(jià)方法

JH/CIE 187-2021

   8

空間行波管加速壽命試驗(yàn)評(píng)估技術(shù)規(guī)范

JH/CIE   206-2021

   9

輻射誘生缺陷的深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)量方法

JH/CIE 204-2021

   10

微機(jī)電器件（MEMS）圓片鍵合可靠性評(píng)價(jià)方法

JH/CIE 205-2021

   11

半導(dǎo)體器件可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)方法

JH/CIE 203-2021

   12

組變存儲(chǔ)單元電學(xué)測(cè)試規(guī)范

JH/CIE 207-2021

   13

霍爾推力器加速壽命試驗(yàn)規(guī)范

JH/CIE 208-2021

   14

霍爾電推進(jìn)系統(tǒng)點(diǎn)火測(cè)試規(guī)范

JH/CIE 209-2021

   15

現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列（FPGA）芯片時(shí)序可靠性測(cè)試規(guī)范

JH/CIE 210-2021

   16

現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列（FPGA）芯片可靠性動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)規(guī)范

JH/CIE 211-2021