會(huì)議信息：

中國(guó)電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)籌建于1979年,，由中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所（即中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室,、工業(yè)和信息化部電子第五研究所）牽頭組織成立,。

中國(guó)電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)每年組織一次學(xué)術(shù)會(huì)議，至今已成功舉辦過十九屆大型學(xué)術(shù)會(huì)議,。中國(guó)電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)第二十屆全國(guó)可靠性物理年會(huì)將于2018年10月下旬在廣州召開。現(xiàn)向廣大可靠性與質(zhì)量管理,、科技工作者征集學(xué)術(shù)論文,。

會(huì)議時(shí)間：2018年10月29日（周一）報(bào)到，10月30至31日正式會(huì)議（會(huì)議通知另行發(fā)布,，如有變化以會(huì)議通知為準(zhǔn)）,。

會(huì)議地點(diǎn)：中國(guó)廣東省廣州市

指導(dǎo)單位：中國(guó)電子學(xué)會(huì)

主辦單位：中國(guó)電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)、電子元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)國(guó)家級(jí)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

支持媒體：中國(guó)電子學(xué)會(huì)中,、英文高級(jí)學(xué)術(shù)期刊《電子學(xué)報(bào)》,、《Chinese Journal of Electronics》,。

大會(huì)主題：用質(zhì)量可靠性鑄牢科技強(qiáng)國(guó)中國(guó)夢(mèng)

論文錄用后，將編制《中國(guó)電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)第二十屆可靠性物理年會(huì)論文集》,，在論文集中評(píng)選優(yōu)秀論文獎(jiǎng)和青年論文獎(jiǎng)兩個(gè)獎(jiǎng)項(xiàng)（遴選比例10%）,，頒發(fā)優(yōu)秀論文證書。

優(yōu)秀論文將推薦給中國(guó)電子學(xué)會(huì)中,、英文高級(jí)學(xué)術(shù)期刊《電子學(xué)報(bào)》,、《Chinese Journal of Electronics》。

征文范圍：

1.前沿技術(shù)及展望

（1）新材料,、新工藝和新機(jī)理

（2）軟件與硬件綜合可靠性

（3）人工智能與可靠性

（4）可靠性發(fā)展現(xiàn)狀及展望

2.失效模式及失效機(jī)理

（1）失效分析新技術(shù)和故障定位

（2）空間,、核、大氣輻射效應(yīng)及機(jī)理

（3）失效機(jī)理模型

（4）FME(C)A和FTA技術(shù)

（5）芯片安全性分析與檢測(cè)

3.可靠性,、環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)與評(píng)價(jià)

（1）多環(huán)境,、多因素、多機(jī)理可靠性試驗(yàn)與評(píng)價(jià)

（2）極限應(yīng)力下的可靠性試驗(yàn)與評(píng)價(jià)

（3）可靠性強(qiáng)化和加速試驗(yàn)技術(shù)

（4）工作和貯存狀態(tài)下的定壽與延壽

（5）環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)與評(píng)價(jià)

（6）電磁兼容測(cè)試與設(shè)計(jì)改進(jìn)

4.可靠性設(shè)計(jì)與仿真試驗(yàn)

（1）可靠性仿真與虛擬實(shí)驗(yàn)

（2）可靠性設(shè)計(jì)和加固技術(shù)

（3）環(huán)境適應(yīng)性分析與設(shè)計(jì)

（4）可靠性,、性能,、經(jīng)濟(jì)性一體化設(shè)計(jì)

（5）可靠性預(yù)計(jì)

5.安全性、測(cè)試性,、保障性及故障診斷

（1）控制系統(tǒng)的安全性（safety）設(shè)計(jì)和評(píng)價(jià)

（2）信息,、網(wǎng)絡(luò)、軟件和硬件的可靠性,、可信性和安全性

（3）基于大數(shù)據(jù)和云計(jì)算的可靠性分析和評(píng)價(jià)

（4）故障診斷與健康管理（PHM）

（5）綜合保障技術(shù),、維修工程理論和應(yīng)用

（6）產(chǎn)品可靠性保證與質(zhì)量工程技術(shù)

征文說明：

1.論文提交截止時(shí)間延長(zhǎng)至2018年9月30日（全文格式見附件）。

2.論文需提交單位蓋章的保密證明,。不涉及國(guó)家和軍事,、商業(yè)秘密。

3.未曾在國(guó)內(nèi),、外公開發(fā)表,。

注：對(duì)發(fā)現(xiàn)有抄襲、剽竊行為的論文作者,，組委會(huì)保留采取進(jìn)一步法律行為的權(quán)利,。

投稿方式：

投稿郵箱：[email protected]，來稿請(qǐng)注明“所屬單位+個(gè)人姓名+可靠性物理年會(huì)+是否為中國(guó)電子學(xué)會(huì)會(huì)員”,。

關(guān)于論文的相關(guān)問題,，歡迎與我們直接聯(lián)系：

聯(lián)系人（電話）：張戰(zhàn)剛 13538851821，劉東方 13332820801

通訊地址：廣州市天河區(qū)東莞莊路110號(hào)

郵編：510610

有您的參加,，會(huì)議將會(huì)更精彩,！

論文格式在附件中，請(qǐng)下載：第二十屆可靠性物理年會(huì)論文征文截稿時(shí)間延至9月30日的通知.doc

中國(guó)電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)

電子元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)國(guó)家級(jí)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

2018年9月18日